Tag Archives: метрология

Группа французских ученых из Политехнического университета О-де-Франс в Валансьене представила новый метод, способный помочь аутентифицировать произведения живописи и выявлять потенциальные подделки. Отчет был опубликован в июньском номере журнала «Surface Topography: Metrology and Properties», издания, посвященного междисциплинарным исследованиям в области физики, … Continue reading →